Сканирующий электронный микроскоп Tescan MIRA-3
Сканирующий электронный микроскоп Tescan MIRA-3 с катодом Шоттки высокой яркости, позволяет получать изображения с высокой контрастностью, разрешением (до 1,2 нм) и низким уровнем шума.
Легкая навигация по образцу обеспечена компуцентрическим столиком образцов с прецизионным воспроизведением координат, полностью моторизованным по всем 5-ти осям.
Выдвижной детектор катодолюминесцентного излучения (панхроматический катодолюминесцентный детектор, диапазоны длин волн 185–850 нм) позволяет осуществлять поиск и определение параметров включений, дефектов и границ зерен в материалах различной природы. Эффективный световод в сочетании с зеркальной системой позволяет за короткое время получать CL изображения высокого качества.
Область применения: топография поверхности (в т.ч. 3D), анализ покрытий, шероховатость и волнистость поверхности, форма и размер зерен, анализ пор, морфологический анализ, исследование зарождения и развития трещин, изломов и очагов разрушений, усталостных бороздок, визуализация p-n переходов, изучение дислокационной структуры (детектором CL).
Микро- и наночастицы олова
Наночастицы ZnO
Изображение вершины огранки ювелирного изделия в SE и CL детекторах