en

Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LSM710 на базе прямого штатива Axio Imager Z1

Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LSM 710 (Carl Zeiss) предназначен для работы в видимом диапазоне, обеспечивает возможность проведения спектрального анализа и послойного анализа образцов по глубине. LSM 710 позволяет получать объемные оптические и люминесцентные изображения с максимально возможным для световых микроскопов пространственным разрешением. Оснащен набором лазеров для возбуждения люминесценции на разных длинах волн.

Сканирование в плоскости XY происходит при помощи двух независимых гальванометрических зеркал. Сканирующий модуль с двумя высокочувствительными краевыми  детекторами (для УФ и ближней ИК области) и 32-х канальной высокочувствительной фотодиодной линейкой. Спектральное разрешение сканирования – 10 нм при параллельном и до 3,2 нм в последовательном режиме сканирования. Максимальный размер кадра до 6144 х 6144 пикселей, в том числе и для мультиканального сканирования. Максимальная скорость 250 кадров в секунду при размере кадра 512 х 16 пикселей, а при сканировании одной линии – 4000 линий в секунду. Изменение увеличения изображения при сканировании от 0.6х до 40х, возможно вращения кадра сканирования на 360 градусов с шагом в 1 градус.

Микроскоп имеет следующие объективы: 5х/0.13, 10х/0.2, 20х/0.4, 20х/0.75, 40х/1.3 (масляная иммерсия), 50х/0.95 и 63х/0.75. Моторизованная турель позволяет переключаться между объективами при помощи программного обеспечения.

Детектор проходящего света позволяет получить дополнительную информацию о пропускании или поглощении исследуемого образца.

Для сканирования образца или возбуждения люминесценции доступны 4 лазера: диодный лазер 405 нм, 30 мВт; перестраиваемы Ar-лазер (458, 488, 514 нм) 30 мВт; HeNe-лазер (543 нм) 5 мВт  и HeNe-лазер (633 нм) 5 мВт.

Программное обеспечение Zen 2.3 позволяет получать изображения, строить и анализировать спектры люминесценции и реконструировать трехмерное изображения объекта из серии оптических срезов. Дополнительные модули позволяют проводить более глубокий анализ и осуществлять деконволюцию полученного изображения.